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詳述紅外壓片機的主要應用范圍

話說很明顯的紅外壓片機就是一種提供給紅外實驗使用的儀器，并且其種類日漸多起來，包括——雙柱和四柱式熱壓機，從驅動方式分為氣動、油壓和電動等；從檔次上分為手動和自動的；從款式上分為臺式和落地式（12噸到100噸）等等。如此現狀的紅外壓片機，其具體的應用是怎樣的呢？1.壓合生產：卡、身份卡、各種板材和印刷電路板等；2.紅外壓片機的質量控制和物理性能測試應用：各種力學性能測試、熱學性能測試、光學性能測試、電學性能測試等；3.材料研發：陶瓷、化合物、建筑材料、化妝品、藥品、粉末金屬、...

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可見分光光度計的操作使用

天津市拓普儀器有限公司主營的722系列可見分光光度計，以全新的設計理念，博采眾家之長。充滿現代化氣息的外形設計，的數據處理和控制功能為該儀器鮮明的特色。廣泛應用于廠礦、衛生、學校、環保及科研實驗室等。我們的目標是為廣大用戶提供高品質的分析儀器。722系列可見分光光度計的特點：采用新型的光路設計和1200/mm高質量光柵，具有雜光低、單色性好的特點。單片機的采用使操作更為簡易，調0%T及100%T僅為輕輕一按。四種測量模式，T、A、C、斜率法，使操作更加簡便。31/2LCD液晶...

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多功能光柵光譜儀的組成結構以及光柵路徑說明

物美價廉、能夠得出zui準確的實驗數據是光柵光譜儀zui大的價值體現，也是購買人員的zui重要求，因此光柵路徑的走向就顯得很重要了，首先說多功能光柵光譜儀的主要結構包括：光源光柵及反射鏡準光鏡和物鏡入射出射狹縫旋鈕接收設備（光電倍增管/CCD）計算機及軟件系統該光柵光譜儀的光柵路徑是需要整機部件的配合的，所以如此運行——光柵由步進電機驅動，由計算機軟件驅動，可以獲得較高的精度。反射鏡1將由入射狹縫進入的光線反射到準光鏡上。反射鏡2離開光路時，物鏡上射來的光線直接進入出射狹縫到...

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中階梯型光柵光譜儀的*之處

首先說中階梯型光柵光譜儀是進行LIBS,LIF,Plasma等實驗的有力實驗工具。因此其*之處包括技術上的優勢以及功能上的優勢：*，中階梯型光柵光譜儀具有非常突出的技術優勢：1.一體化設計，內部無機械部分，穩定性高2.軟件溫度校正功能，根據溫度傳感器的輸出，由軟件自動校正光譜精度3.采用雙棱鏡分開不同級次的光，減小不同級次的串擾，串擾4.無需光柵掃描即可一次性得到230-975nm全譜數據第二，中階梯型光柵光譜儀的功能優勢體現在：1.中階梯光柵光譜儀中無轉動部件，使用簡單，無...

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光柵光譜儀的功能和應用范圍

光柵光譜儀的功能可以從其可分析的光譜范圍以及其結構的分辨能力方面來解析，首先光柵光譜儀的結構是由棱鏡或衍射光柵等構成。利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。通過光譜儀對光信息的抓取、以照相底片顯影，或電腦化自動顯示數值儀器顯示和分析，從而測知物品中含有何種元素。光柵光譜儀（Spectroscope）是將成分復雜的光分解為光譜線的科學儀器。平常我們看到的陽光中的光線成分，經過光柵光譜儀的分析，按波長排列，可見光只占光譜中很小的范圍，其余都是肉眼無法分辨的光譜，如紅外線、微波、紫外...

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科學級的光柵光譜儀主要特點和典型應用

科學級的光柵光譜儀不同于普通的光柵光譜儀，不論是在結構上還是在使用上都具有特定優勢，包括：*增強的系統靈敏度由于面陣CCD充分利用了狹縫高度方向入射的光線，從而極大地增強了QE65000的系統靈敏度。在海洋光學的光譜儀中，通過選擇不同的狹縫寬度來控制進入光學平臺的光強。而目前大部分的光譜儀都采用線性CCD探測器，所以從狹縫高度方向入射的光線不會被系統充分利用，而QE65000科研級光譜儀采用的是面陣CCD，因此能夠采集到更多的光線，它非常適合亮度極低的熒光應用。第二，該科學級...

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描述光柵光譜儀的四個參數

話說光柵光譜儀的四個參數即是整個儀器的性能指標，也是儀器的研究方向，包括波長、帶寬、分辨率以及色散，每個參數都有不同的意義：波長精度、重復性和準確度波長精度是光柵光譜儀確定波長的刻度等級，單位為nm。通常，波長精度隨波長變化。波長準確度是光譜儀設定波長與實際波長的差值。每臺單色儀都要在很多波長檢查波長準確度。波長重復性是光譜儀返回原波長的能力。這體現了波長驅動機械和整個儀器的穩定性。卓立漢光的光譜儀的波長驅動和機械穩定性，其重復性超過了波長精度。帶寬帶寬是忽略光學像差、衍射、...

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深刻記憶紅外壓片機的注意事項

結構簡單，使用方便，性能可靠，低成本率是所有的廠家以及用戶的追求，如今借鑒了*技術的天津市拓普紅外壓片機在不斷的更新改造中實現了上述的優勢，為了保障紅外壓片機更高的使用效率，提醒大家注意一下的問題：1．樣品的研磨要在紅外燈下進行，防止樣品吸水。2.測定時實驗室的溫度應在15～30℃，所用的電源應配備有穩壓裝置。3．為防止紅外壓片機受潮而影響使用壽命，紅外實驗室應保持干燥（相對濕度應在65%以下）。4．OMNI采樣器使用過程中必須注意以下幾點：a.樣品與Ge晶體間必須緊密接觸，...

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