電子散斑干涉（ESPI）實驗裝

產品簡介：

本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，優良的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。該實驗裝置具有機構簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作，實時顯示全場信息及處理信息快等優點，故而應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。

產品型號：WSG-1型

更新時間：2025-07-10

廠商性質：生產廠家

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物理教學儀器

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產品介紹

產品詳細資料

本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，優良的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作，實時顯示全場信息及處理信息快等優點，故而應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。

自己調節光路，可提高動手能力
采用了處理光學信息的CCD測量技術
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立圖

CCD攝像機（帶電源）、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調整架、分束鏡、擴束鏡、準直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測物品等

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